Platine XY Graduée
Molettes de déplacements, pinces de blocage échantillon
Surface de travail : 116x137 mm
Mouvements XY : 50x75 mm
Pour éclairage en réflexion
Référence: 4551239901000
Inclinaison possible +/- 30° - Rotation possible
Avec insert adhérent diamètre 84mm
Avec 2 pinces de blocage échantillon
Molettes de déplacements, pinces de blocage échantillon
Surface de travail : 116x137 mm
Mouvements XY : 50x75 mm
Pour éclairage en réflexion
Plaque en plastique noir et blanc
Pour sources K LED et contrôle de l'intensité
Micromètre / Etalon objet pour loupe binoculaire
25 lignes avec 1 mm d'intervalle
50 lignes avec 1/10 mm d'intervalle
(Une version avec certificat d'étalonnage est disponible)
Micromètre à réticule 10:100, d=21mm
Doubles SPOT à LED montés sur fibres type ''col de cygne''
Se place directement sur les statifs K MAT / K EDU / K LAB
Alimentation par Contrôleur K LED ou directement sur le statif
Polariseur/Analyseur tournant - Monture M49/52
Support de stéréomicroscope colonne 32 avec mouvement
Avec caméra numérique intégrée
Zoom gradué à crans 0,8x à 4x. Système optique Greenough
Oculaires 10x/23 Br Focus. Ratio Zoom 5/1
Grossissements 8x à 40x
FOV Max : 29mm - WD = 110mm
Eclairage semi-coaxial intégré (alimentation par statif ou contrôleur)
Caméra 1,MP Couleurs et WiFi
Routeur WLAN intégré
Connexion via tablette Apple : via application gratuite ZEISS Labscope ou Matscope
Lame lambda dans la coulisse
Dust Protection Glass M52/M49
Zoom gradué à crans 0,8x à 4x - Systme optique Greenough